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인텍플러스, 평판 패널 검사방법 관련 美 특허권 취득

NSP통신, 민효진 기자, 2016-07-08 11:27 KRD7
#인텍플러스(064290)

(서울=NSP통신) 민효진 기자 = 인텍플러스(064290)는 평판 패널 검사 방법에 대한 미국 특허를 취득했다고 8일 공시했다.

특허 주요내용은 평판 패널을 검사하는 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 각 화소의 회로 패턴을 검사하는 방법(박막트랜지스터의 전극라인과 신호라인의 선폭 또는 패턴 간격 등의 치수를 측정하여 불량 여부를 검사하는것)에 관한 것이라고 설명했다.

NSP통신/NSP TV 민효진 기자, mhj0211@nspna.com
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